Couloscope CMS2 STEPFischer*臺式測厚儀庫倫測量法的詳細資料：

Fischer*臺式測厚儀庫倫測量法

CouloScope CMS STEP電解測厚儀簡介：
 德國菲希爾涂層測厚儀CouloScope CMS STEP在電鍍行業(yè)中，對多層鎳鍍層中各自層的同時的厚度和電極電位的測定變成了一個越來越重要的需求。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個鎳層間足夠的電位差導(dǎo)致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個鎳層的穿透速度，并且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護。 COULOSCOPE® CMS STEP多層鎳測厚儀器根據(jù)庫侖電量分析法進行測量，符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764標準
 通過電位差測試儀器可以簡便的對鎳鍍層之間的電化學(xué)的電位差進行測量。 可以用于測量銅基層、鎳多層涂層和鉻涂層的厚度。
 COULOSCOPE® CMS STEP可以通過定位于電位-時間表中相關(guān)部分的雙指針來方便地測出鍍層厚度和電位差。這個圖表能夠外部保存或通過RS232轉(zhuǎn)換到PC電腦中。
 CouloScope CMS STEP電解測厚儀特性：
 吸引人的設(shè)計，大的液晶顯示器和清晰安排的鍵盤。
 操作簡單，菜單指引的操作提示。
 電解區(qū)域直徑從0.6 mm (24 mils) 至3.2 mm (128 mils)。
 大約100個預(yù)先定義好的應(yīng)用程式適用于大多數(shù)的金屬鍍層，包括測量線材。

典型應(yīng)用：
電鍍緊固件
測試印刷電路板上殘留的純錫含量
鍍鉻浴室配件
測量常見的單相以及雙相涂層，如鐵上的ZN或銅上的SN / NI
金屬涂層的準確測量厚度品種為0.05 - 50m，不需要預(yù)先設(shè)置幾種材料; 基底組成以及幾何形狀也與測量過程無關(guān)
測量印刷電路板上純錫的剩余部分，以確保可焊性
多層涂層，如鐵/塑料（abs）基板上的CR / NI / CU

電位差測厚儀Couloscope CMS2 STEP

使用5 x 5個單獨測量的測試區(qū)域校準測量系統(tǒng)的標準

作為測量鍍層厚度zui簡單的方法之一，庫侖法可以用于 各種鍍層組合。 尤其對于多鍍層結(jié)構(gòu)， 當允許破壞性測 量時，它提供了一個比 X 射線更經(jīng)濟的替代方法。 

很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡單快速地測量。這個方法為任何金屬鍍層 提供了準確的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內(nèi)， 很多 材料不需要預(yù)設(shè)定；基材組成和幾何形狀對于測量都 是無關(guān)緊要的。 
 
zui常見的應(yīng)用之一就是測量線路板上剩余的純錫，以確 保可焊性。多鍍層例如 Cr/ Ni/Cu 在鐵或者塑料（ABS） 基材上，經(jīng)常被用于高品質(zhì)的浴室用品，也可以用這個方法進行測量