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菲希爾、XDL230 鍍金層測厚儀信息
點擊次數(shù)：601 更新時間：2025-05-31 打印本頁面 返回
德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230，德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230操作說明書，德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230，德國菲希爾X射線膜厚儀。
X射線鍍層測厚儀簡介：
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。菲希爾XDL230有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。
由于采用了FISCHER基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。XDL 230特別適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
鍍金層測厚儀菲希爾代理典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
• 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
• 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
• 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
• 測量印刷線路板
• 分析電鍍?nèi)芤?/p>
