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菲希爾黃金鍍層測厚儀信息
點擊次數：364 更新時間：2025-04-27 打印本頁面 返回
菲希爾X射線GOLDSCOPE SD特點
緊湊耐用設計
采用臺式設計，結構緊湊且堅固，適合長期使用，符合EN 61010、DIN ISO 3497和ASTM B 568等國際標準。X射線熒光技術優化
硬件和軟件專為黃金及貴金屬分析優化，采用X射線熒光（XRF）技術，無需樣品制備，實現無損、快速（典型測試時間5秒）且高精度分析。型號與探測器差異
SD 510/SD 515：配備硅PIN探測器，適合快速檢測，適用于當鋪、黃金買賣和小型實驗室。
SD 520/SD 550：配備硅漂移探測器（SDD），分辨率更高（≤180eV），尤其擅長測量相近元素（如鉑族金屬），SD 550還支持多濾波器和準直器切換，適應復雜需求。
便捷操作設計
測量艙寬敞（最大樣品高度90mm），支持自下而上的測量方向，透明窗口便于觀察，集成視頻顯微鏡輔助精準定位測量點。
操作簡單：開艙放置樣品后，一鍵啟動即可完成分析。
軟件支持
預裝FISCHER WinFTM®軟件，內置貴金屬分析程序，支持數據管理、報告生成及自定義測試任務，優化工作流程
